求用椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率的实验数据

来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/04/27 23:17:44

求用椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率的实验数据
求用椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率的实验数据

求用椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率的实验数据
椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率
在现代科学技术中,薄膜有着广泛的应用.因此测量薄膜的技术也有了很大的发展,椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方法之一.椭偏法测量具有如下特点:
能测量很薄的膜(1nm),且精度很高,比干涉法高1-2个数量级.
是一种无损测量,不必特别制备样品,也不损坏样品,比其它精密方法:如称重法、定量化学分析法简便.
可同时测量膜的厚度、折射率以及吸收系数.因此可以作为分析工具使用.
对一些表面结构、表面过程和表面反应相当敏感.是研究表面物理的一种方法
椭偏仪的光路图
椭偏仪的基本原理
入射光的P分量
入射光的S分量
反射光的P分量和S分量的比值—椭圆参量
r=RP/Rs=tanyexp(iD)=f(n1,n2,n3,f1,d,l)

求用椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率的实验数据 跪求用椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率的实验数据 怎样用迈克尔逊干涉仪测量透明薄膜的折射率(或者厚度) 设计性实验,最好附上,实验原理,实验设计方案,实验器材有以下几种:迈克尔逊干涉仪 半导体激光管 待测玻璃片 测量电度薄膜的厚度,用什么传感器,以及它的测量原理、 测量薄膜的厚度选用哪款传感器,如何测量? 椭圆偏正光法测薄膜厚度 精确测量硅片上的二氧化硅薄膜的厚度精确测量二氧化硅薄膜厚度时需要用化学方法把二氧化硅薄膜的一部分腐蚀掉,使它成为劈尖状.请问:怎么把薄膜腐蚀成劈尖状? 求几个大学物理实验的测量数据和计算过程及结果声速的测定,RC串联电路的暂态分析,平行光管的调节和应用,霍尔效应研究,光的偏振现象,等厚干涉--牛顿环、劈尖干涉,用补偿法测量电源的电 大学物理厚度干涉求薄膜厚度的问题!急用~!在线等!在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形,先用波长为550nm的平行光垂直照射,观察反射光形成 一平面单色光波垂直照射在厚度均匀的薄膜上,薄膜覆盖在玻璃上,光波波长为500cm,薄膜折射率1.30,玻璃折射率1.50光波在反射光中消失.求1.分析在薄膜上下面上是否发生了半波损失;2.薄膜的厚 塑料布的厚度怎么测量就是塑料大棚的薄膜 波长为λ的平行单色光垂直入射在折射率为n2的薄膜上,经上下两个表面反射的两束光发生干涉.薄膜厚度为e,而且n1>n2>n3,则两束光在相遇点的位相差为?求详细计算过程及公式..... 光的干涉用白光垂直照射厚度d=400nm的薄膜,如果薄膜的折射率为n=1.5,试求在可见光范围内,在反射光中得到加强的光波波长,薄膜的正面和背面分别呈现什么颜色 单色光垂直照射在均匀厚度的薄膜上,薄膜覆盖在玻璃上,500nm和700nm两波长光在反射中消失,求薄膜厚度已知空气、薄膜和玻璃折射率分别为n1,n2,n3答案解析里这么写的:干涉相消有2n2d=(k+1/2) 用SEM测超薄薄膜厚度,如何制样才能保证导电性足够好?薄膜是以溶胶凝胶法涂在Pt/Ti/SiO2/Si基片上的,厚度大概50nm,用扫描电镜测量薄膜厚度时如何制样才能保证导电性足够好? 在迈克尔逊干涉仪的一臂中,垂直插入折射率为1.45的透明薄膜,此时视场中观察到15个条纹移动.若所有照明光波长为500nm,求该薄膜的厚度. 把折射率n=1.40的薄膜放入迈克尔逊干涉仪的一臂时,如果产生了7条条纹移动,求薄膜厚度钠光波长589.3nm 在杨氏双缝干涉实验中,两个缝分别用折射率为1.4和1.7厚度都为d的薄膜遮盖,在光屏上原来第二级明纹处,现在为第7级明纹所占据,若入射光波长为600nm则厚度为多少?