如何利用分光光度计测量薄膜厚度用分光光度计测出了a-Si:H薄膜光透过谱(已扣除衬底的了),但是薄膜厚度应该怎么算出来呢?是不是跟波峰有关呢?觉得应该是与比尔—朗伯定理有关,但是详

来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/04/28 08:17:21

如何利用分光光度计测量薄膜厚度用分光光度计测出了a-Si:H薄膜光透过谱(已扣除衬底的了),但是薄膜厚度应该怎么算出来呢?是不是跟波峰有关呢?觉得应该是与比尔—朗伯定理有关,但是详
如何利用分光光度计测量薄膜厚度
用分光光度计测出了a-Si:H薄膜光透过谱(已扣除衬底的了),但是薄膜厚度应该怎么算出来呢?是不是跟波峰有关呢?觉得应该是与比尔—朗伯定理有关,但是详细的细节以及原理不是很懂,还请高人指教,最好详细点.

如何利用分光光度计测量薄膜厚度用分光光度计测出了a-Si:H薄膜光透过谱(已扣除衬底的了),但是薄膜厚度应该怎么算出来呢?是不是跟波峰有关呢?觉得应该是与比尔—朗伯定理有关,但是详
你应该找一个标准片进行参比,单独一片只能测出绝对吸光度用处不大.找同一种材质的标准片就可以参照比尔定律了.